RFID冷热冲击试验箱

产品详情：

用于RFID电子标签的冷热冲击的可靠性试验。
一. 技术参数
1.型号：JTFQCJ-50
2.工作室尺寸：W×D×H 320×350×450（mm）
3.温度范围：－80℃～200℃
4.高温箱： RT+15℃～200℃
5.低温箱：-80℃～ 0 ℃
6.温度误差：≤±2℃
7.预冷下限温度：≤-80℃
8.冲击温度：－55℃～150℃
9.温度恢复时间：≤5min 风门转换时间≤5s;
10.本冲击试验箱符合：
GJB150.3－86 GJB150.4－86 GJB150.5－86
11.样品放在测试区，做冷热冲击测试。
二.功率：16KW
三． 试验分三部分，高温区，低温区，测试区。
湿度控制器：
设定精度：温度：0.1℃
解析度：±0.1℃；
四．设备使用条件
1.环境温度：5～25℃
2.环境湿度：≤85%R·H
3.保证性能的条件：（在下达条件下，保证最低可达-60℃）
4.需安装冷却量为 5吨的冷却塔（制冷系统用）
5.无阳光直射
五．安装场地要求：
试验箱后面距离墙壁不得小于800mm，左右两侧不得小于400mm,用户须提供独立的配电开关及插座。