中国电子技术标准化研究院举办2017年射频识别开放实验室测试活动

　　日前，由中国电子技术标准化研究院与射频识别开放实验室联合主办的“自主RFID国家标准产品互联互通测试活动”在深圳赛西国家工程实验室成功举行。此次活动集聚了国内自主RFID标准研制机构以及芯片研发单位，包括我院、北京中电华大电子设计有限责任公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、重庆西南集成电路设计有限责任公司等。

　　本次活动主要面向符合GB/T 29768-2013《信息技术 射频识别 800/900MHz空中接口协议》以及GJB 7377.1《军用射频识别空中接口 第1部分：800/900MH参数》的标签生产研制单位，采用先进的标签性能测试工具, 对参与单位提供的标签进行了前向读/写灵敏度、反向读/写灵敏度、前向读/写距离、反向读/写距离和激活场强的测试评估。本次测试以800MHz~1000MHz为主，共测试了7款不同型号的标签，同时还测试了3款符合ISO/IEC 18000-63的标签进行比较，结果表明符合自主RFID国家标准的标签产品在设计性能上均达到国际先进水平。

　　通过本次测试活动，使RFID标签厂商加深了对800/900MHz自主国家标准的理解，深入了解了标签产品的关键性能，为标签产品的设计和研制提供了实验依据，增强了用户对自主RFID国家标准产品的信心。