CISC携手深圳千兆科成功展出Xplorer200及NFC Xplorer110 RFID测试系统

　　8月20日至8月22日期间，奥地利CISC半导体公司携手中国区代理商深圳千兆科科技有限公司共同参加了在深圳会展中心举办的2015深圳国际物联网与智慧中国博览会，在会展期间成功展出了CISC Xplorer 200及NFC Xplorer 110测试系统。

　　CISC和千兆科在现场展示了Xploer 200优秀的UHF RFID标签性能测试、一致性测试、监听测试等高精度的测试功能，同时还给广大观众介绍了UHF RFID标签角灵敏度测试、读写内存测试、生产线测试及TIPP测试的方法，让广大UHF RFID标签及读写器厂商大开眼界。

　　另一方面，作为隆重推出的NFC Xplorer 110主要侧重于HF RFID的标签性能(谐振频率、最小激活场强及Q值等)及规范测试，特别是现今流行的NFC测试，覆盖了ISO14443A/B、ISO15693和ISO18096等标准。同时CISC透露CISC的NFC interoperability即互通性测试系统已经获得了Google公司的认可，确保Google公司手机拥有了高质量的NFC读写能力，同时多家手机生产商也开始向CISC公司咨询相关测试系统及方法。

　　与会过程中，不少知名RFID芯片、标签及读写器生产前来询问相关产品技术问题，作为ISO/IEC 18000-63等多项标准的主要编辑人CISC CTO Josef先生在现场给予了详尽的解答，同时在同期举行的RFID大会中对如何利用测量设备进行有效的UHF RFID测试进行了精彩的演讲，在会议现场获得了阵阵响声。