AdvanIDe发布Mifare克隆检测工具

恩智浦的Pegoda II阅读器

　　RFID标签和阅读器的芯片供应商AdvanIDe公司，推出了一个工具包，旨在帮助应答器制造商、运输运营商和其他厂商，检查标签或非接触卡的芯片真实性，并确认是否已被克隆。

　　NXP Mifare Classic 1K克隆检测工具，包括恩智浦半导体的Mifare Pegoda II阅读器(带有一个SAM安全访问模块)，以及额外的测试卡和软件，可以验证恩智浦Mifare Classic芯片的真实性。

　　根据AdvanIDe称，如果IC已被克隆，它就会表现出性能不稳定，读写距离也会相对缩减，这两者都会让假芯片现出原形。

　　AdvanIDe的这套工具现售价250美元，包括阅读器、USB线、光盘(包含AdvanIDe的独创性检查软件和文档)，三张下一代Mifare Classic卡，和一个仿Mifare的样卡。(RFID世界网编译)

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