泛华测控携手NI,举办数据采集知识巡回研讨会
作者:国际电子商情
来源:RFID世界网
日期:2008-08-25 08:47:52
摘要:由北京中科泛华测控技术有限公司DAQ事业部携手美国国家仪器中国有限公司(NI)共同举办的 “快速构建高效完整的数据采集系统”全国巡回研讨会将陆续在上海、武汉、沈阳、哈尔滨、青岛等全国十六个城市展开。
由北京中科泛华测控技术有限公司DAQ事业部携手美国国家仪器中国有限公司(NI)共同举办的 “快速构建高效完整的数据采集系统”全国巡回研讨会将陆续在上海、武汉、沈阳、哈尔滨、青岛等全国十六个城市展开。
此次巡回研讨会主要围绕数据采集基础知识、产品选型知识以及LabVIEW、Measurement Studio等开发软件使用技巧等内容进行,为广大测试测量工程师提供数据采集产品的选型指导以及技术咨询。泛华工程师结合多年来的实际案例及目前实际产业需求,通过现场演示和实际操作,帮助客户快速构建高效完整的数据采集系统;同时,此次研讨会也为广大测试测量工程师提供了一个数据采集解决方案交流平台。
此次巡回研讨会主要围绕数据采集基础知识、产品选型知识以及LabVIEW、Measurement Studio等开发软件使用技巧等内容进行,为广大测试测量工程师提供数据采集产品的选型指导以及技术咨询。泛华工程师结合多年来的实际案例及目前实际产业需求,通过现场演示和实际操作,帮助客户快速构建高效完整的数据采集系统;同时,此次研讨会也为广大测试测量工程师提供了一个数据采集解决方案交流平台。