新研究发明了更经济的RFID 标签开发方式
作者:RFID世界网 贺琳编译
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日期:2008-05-15 14:19:39
摘要:佐治亚技术机构研究人员宣布他们开发出 RFID testbed,与目前的标签设计过程的对比,这台设备可以更经济、有效地测试新标签模型。
佐治亚技术机构研究人员宣布他们开发出 RFID testbed,与目前的标签设计过程的对比,这台设备可以更经济、有效地测试新标签模型。
这套系统核心是一个芯片仿真器,可仿效发出 RFID标签芯片的信号。仿真器配备有天线,当设备受到RFID阅读器刺激时,设备产生 RF信号。这种信号与含天线设计的 RFID标签发出的信号一样,可以被测量和分析,包括信号对周遭环境的反应。工程师采用不同天线来重复测试过程,以达到所期望的最终产品。
据研究人员 Durgin称,新天线模型化方式与目前的 RFID标签设计过程完全不同。普常方式利用计算机模拟,即工程师采用特殊的软件来设计和测试标签模型。“硬件仿真比软件仿真测试的范围更广。通过全方面的测试方式,我们可获得芯片设计软件包所不能实现利益。”
而且,如果标签设计师希望物理测试新芯片,他们往往必须花上几万美元来购买半导体制造商生产的模型。“采用我们的testbed,你不必每次都花$30,000 或 $100,000来测试新型信号协议。"
Testbed的开发由国家科学基金会赞助。设备目前的工作频率为915 MHz,研究人员希望实现更高频段的应用,如5.7 GHz。实际上,这个项目长期的目标是研究和利用那些高频段的 RF信号。